METAL THICKNESS DEPENDENCE ON THE ELECTRICAL PROPERTIES OF IDEAL Ti n GaAs SCHOTTKY CONTACTS

GÖKSU T., ÖZDEMİR A. F., TURUT A., UÇAR N.

International Semiconductor Science Technology Conference, 13 - 15 Ocak 2014

• Yayın Türü: Bildiri
• Isparta Uygulamalı Bilimler Üniversitesi Adresli: Hayır