Comparison of Voltage Scaling and Gate Sizing for Low Power Custom IC Design
The IASTED International Conference on Circuits and Systems, Kailua-Kona, HI, Amerika Birleşik Devletleri, 18 - 20 Ağustos 2008, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Kailua-Kona, HI
- Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
- Isparta Uygulamalı Bilimler Üniversitesi Adresli: Hayır