Yalan Tespit Sistemi: Bir Kuantum Uygulaması
Bilgisayar Mühendisliği Alanında Uluslararası Araştırma ve Değerlendirmeler, BARDAK SELAHATTİN, Editör, Serüven Yayınevi, ss.13-25, 2024
- Yayın Türü: Kitapta Bölüm / Mesleki Kitap
- Basım Tarihi: 2024
- Yayınevi: Serüven Yayınevi
- Sayfa Sayıları: ss.13-25
- Editörler: BARDAK SELAHATTİN, Editör
- Isparta Uygulamalı Bilimler Üniversitesi Adresli: Hayır