EFFECTS OF THERMAL ANNEALING ON ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF Ti/P-Si/Al SCHOTTKY STRUCTURES

ASIL UĞURLU H., ÇINAR DEMİR K., COŞKUN C.

TFD 30, İstanbul, Türkiye, 02 Eylül 2013, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: İstanbul
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Isparta Uygulamalı Bilimler Üniversitesi Adresli: Hayır